Радиационные процессы в ионных кристаллах
Здесь по оси ординат отложена энергия системы,а по оси абсцисс - параметр Q,характеризующий локальную деформацию кристаллической решетки.При поглощении света в экситонной полосе кристалл переходит из основного состояния (1) в состояние со свободными экситонами (2), на дно экситон-ной зоны. Для автолокализации экситонов, если даже она энергетически выгодна, нужна некоторая деформация решетки.
Если за счет тепловой флуктуации преодолеть активационный барьер 
необходимый для такой деформации, то свободный экситон может перейти в энергетически более выгодное автолокализованное состояние (
).
Возможны и туннельные температурно независимые переходы свободных экситонов в автолокализованное состояние. Им соответствует отсутствие полного замораживания свечения автолокализованных зкситонов при предельно низких температурах.
Движение автолокализованного экситона описывается как термоакти-вировпнный прыжковый процесс (прыжковая диффузия). Вероятность этого процесса растет экспотенциально при увеличении температуры. Прыжковая
диффузия экситонов 
эффективно проявляется при температуре выше 110 К в KJ, 175 К в Kbr и 210 К в KCl.
В последнее время получены экспериментальные данные, указывающие на возможность существования одногалоидных автолокалиоован-ных экситоноа 
(см.: [20], c.121).
§2.3. Механизмы создания радиационных дефектов в кристаллах [21,23,32-40]
Как отмечалось в §1.1, сперхравновесные концентрации точечных дефектов в кристаллах можно создать путем облучения их квантами электромагнитного излучения или частицами достаточно больших энергий. Возникающие при этом дефекты кристаллической структуры называют радиационными дефектами. Они во многом определяют физические свойства кристаллов.
Главный интерес к практическому использованию радиационных дефектов твердых тел в настоящее время сосредоточен в основном на следупщих трех направлениях. Во-первых, использование генерации радиационных дефектов для сознательного изменения свойств твердых тел в выгодном для техники направлении (радиационное материаловедение). Во-вторых, борьба с вредными изменениями свойств твердых тел, эксплуатируемых в условиях сильного облучения ионизирующими излучениями (в ядерных реакторах, ускорителях, космосе и т.д.). В-третьих, ^пользование радиационных дефектов для записи и хране ния информации в твердых телах (дозиметры, ячейки пам^ги).
Эффективное решение этих практических задач требует выяснения механизмов создания и закономерностей поведения радиационных дефектов в твердых телах.
Кроме того, облучая твердые тела ионизирующей радиацией, можно создавать условия для твердого тела, очень далекие от термодинамически равновесных. Изучение ионных и электронных процессов в твердом теле в этих условиях представляет большой самостоятельный интерес.
Радиационные повреждения могут возникать в твердых телах в результате взаимодействия частиц и квантов либо с ядерной, либо с электронной подсистемами кристаллической решетки. Поэтому различают две группы механизмов радиационного создания нарушений в твердых телах - ударные электронные механизмы.
Ударные механизмы создания радиационных дефектов относительно хорошо изучены в полупроводниках и металлах при действии на них быстных нейтронов, протонов, алектронов и т.д. (З6-39, 21].
При не слишком больших энергиях частиц первичный акт взаимодействия этих частиц с кристаллообраэукщими частицами (атомами, ионами) сводится к упругому парному соударению, подчиняющемуся классическим законам сохранения энергии и импульса.
Если первичная частица имеет кинетическую энергию Ек и массу m , а масса атома (иона) М ,то при парном лобовом соударении в не-релятивистском приближении смещаемый из узла кристаллической, решетки атом (ион) приобретает энергию
Пусть Еd - минимальная энергия, необходимая для смещения атома (иона) из нормального узла кристаллической решетки. Тогда, полагая Еd = Е из (2.6) можно получить выражение для так называемой пороговой кинетической энергии частицы (Еn = Ек), т.е. минимальной энергии частицы, обладая которой она еще способна при парном лобовом соударении создать френкелевскуго пару дефектов:
При электронной бомбардировке необходимо учитывать релятивисткие эффекты. В этом случае максимальная передаваемая энергия
(2.6)
m и Ек - масса и кинетическая энергия эпектрона, соответственно. Ударные механизмы создания радиационных дефектов универсальны.
Они осуществляются и в ионных кристаллах. Экспериментально ударные механизмы радиационного дефектообразования изучены на монокристаллах МgO. Для окиси магния пороговая энергия смещения электронами ионов кислорода составляет 330 КэВ, чему соответствует Еd = 60 эВ (см.: [21], с .2.25). В ЩГК в сравнении с другими механизмами ударные механизмы проявляются слабо.
При взаимодействии частиц и квантов элактргмагнитного излучения с твердыми телами большая часть их энергли расходуется на возбуждение электронной подсистзмы кристаллов. Возникающие при этом разнообразные электронные возбуждения обусловливают электронные механизмы радиационного дефектообразования в твёрдых телах. Электронные механизмы создания радиационных дефектов хорошо изучены в ионных кристаллах, особенно в ДГК. В этом случае радиационные деффекты преимущественно создаются с помощью механизмов, требующих гораздо меньшей энергии, чем ударные механизмы. Соответствующий механизмы в радиационной физике твердых тел получили название подпороговых механизмов создания радиационных дефектов.
Один из таких механизмов предложен в 1954 г. Варли Г407, впервые рассмотревшим возможность создания фреккелевских пар дефектов при двойной ионизации ионов галоида 
в ЩГК. Пороговая энергия механизма Варли определяется возможностью получения дважды ионизованных анионов (дляКСl она равна 200 эВ). Этот процесс может произойти в результате Оже-процоссов в ионах галоида. Под действием излучения удаляется один из электронов внутреннего слоя галоида. При переходе электрона с внешнего слоя на внутренний выделяется энергия, идущая на вторичную ионизации этого иона. В результате этих процессов возникает нестабильная группировка из семи расположенных рядом положительно заряженных ионов, которая в принципе может исчезать путем выталкивания положительно заряженного галоида из узла кристаллической решетки в междоузлие. Гипотеза Варли подвергалась подробной экспериментальной проверке и было доказано, что процессы двойной (и многократной) ионизации кристаллообразующих частиц не играют решающей роли при создании радиационных дефектов в ЩГК (см.: 1211, С.242). Полученный розультат связывается с тем, что время жизни многократно ионизованных состояний анионов определяется временем захвата электронов соседних анионов, равным 
с. Это время меньше периода колебаний решетки и, вероятно, слишком мало для накопления импульса, необходимого для смещения аниона в междоузлие.
Перейти на страницу: 1 2 3 4 5 6